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UniVista Tespert DIAG是一款创新高效的缺陷诊断软件工具,自主研发了高效准确的诊断引擎,采用新一代数据结构,支持压缩和非压缩的测试向量诊断技术。其图形化界面提供了缺陷全景对照,帮助工程师快速定位和解决系统性缺陷,大幅提升芯片测试效率,加速产品上市时间。

缺陷诊断与全景对照分析工具 Tespert DIAG
2024-09-18

UniVista Tespert DIAG是一款创新高效的缺陷诊断软件工具,自主研发了高效准确的诊断引擎,采用新一代数据结构,支持压缩和非压缩的测试向量诊断技术。其图形化界面提供了缺陷全景对照,帮助工程师快速定位和解决系统性缺陷,大幅提升芯片测试效率,加速产品上市时间。

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