合见工软UniVista Tespert BSCAN是一款高效的DFT工具，旨在帮助用户在集成电路（IC）设计中实现边界扫描测试。该工具通过在每个PAD附近加入Boundary Scan Cell来实现对每个PAD的控制和观察，从而无需使用物理测试探针即可测试芯片IO功能和板上集成电路之间的互连。该工具能够对芯片进行无损检测，确保设计的可测试性，提高产品的测试效率，并降低测试成本。工具支持以RTL形式自动插入边界扫描链和标准的JTAG TAP控制器。支持边界扫描链的重排、剪裁、逻辑分组、优化等功能。
产品特性
- IEEE 1149.1标准兼容
- 基于IJTAG的高效自动化流程
- 自动化测试生成
- 高效故障诊断
- 灵活易调的分组策略
- 直观易用的图形界面
沪公网安备31010402009389号