芯片级 EDA

测试向量自动生成工具 UniVista Tespert ATPG

 

集成电路的测试是整个集成电路设计和生产过程中不可或缺的核心环节。高品质低成本的测试是保证芯片质量的关键,也是获得商业成功的重要保障,而高效的测试向量自动生成工具(ATPG)是获得最优测试的必要保证。上海合见工业软件集团有限公司(简称“合见工软”)作为自主创新的高性能工业软件及解决方案提供商,集合多位全球EDA知名技术专家,倾力开发推出具有自主知识产权的商用级测试向量自动生成工具UniVista Tespert ATPG,集成了优化的库单元提取工具,高效的并行多线程引擎,直观易用的图形界面,同时支持基于硬件的高效测试向量压缩技术,能够为各种类型的芯片提供优质高效的测试方案。

 

产品优势

  • 优化的ATPG库单元的自动提取和校验
  • 高效的测试向量自动生成
  • 基于硬件的高效测试向量压缩技术
  • 直观易用的图形界面

技术视频

揭秘DFT!看芯片界“超级质检员”是怎样炼成的

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