UniVista Tespert SCAN是面向数字IC门级网表的全自动DFT扫描链设计工具，技术能力全面对标国际主流商用解决方案。工具专注于扫描结构自动生成、DFT设计规则修复、智能扫描链均衡排布与分层扫描架构搭建，可快速完成复杂SoC标准化扫描链路开发，有效解决传统扫描设计链分布不均、时序面积开销高、DFT违例频发、超大容量设计迭代缓慢等典型工程痛点。
本工具可深度优化ATPG与Logic BIST测试性能，大幅精简测试向量、降低量产测试成本与人工迭代工作量，全面适配高端SoC、汽车电子、工业控制、AI芯片等多品类高可靠数字IC的量产DFT设计场景。
产品特性
- 支持Flat和Hierarchy的设计流程
- 全流程平台自动化联动
- 门级网表全自动扫描处理流程
- 完备 DFT DRC 检测与修复能力
- 存量子链兼容与异构设计适配
- 多维智能均衡分区优化
- 支持多种scan模式的扫描链结构生成
- 支持测试点插入
- 可视化图形调试与问题快速定位
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